Новый расширенный низкочастотный анализатор шума предлагает уникальную возможность измерения и моделирования шумов устройств на полупроводниковых пластинах.
Ключевые нововведения:
- Интеграция расширенного низкочастотного анализатора шума с ПО WaferPro Express позволяет создать готовое решение для измерения шумов, а также параметров постоянного тока, емкости и высокочастотных S-параметров
- Программный модуль измеряет параметры по постоянному току, шум 1/f, случайный телеграфный шум и анализирует данные проводимости
- Тесное сотрудничество компаний Keysight и Cascade Microtech позволило создать полностью интегрированное решение для измерений на полупроводниковых пластинах с автоматическим управлением всеми основными системами зондирования полупроводниковых пластин
Компания Keysight Technologies объявила о выпуске новой версии своего высокопроизводительного Низкочастотного анализатора шума (A-LFNA), который предназначен для выполнения быстрых, точных и воспроизводимых измерений низкочастотных шумов. Эта версия оснащена новым интерфейсом пользователя и непосредственно интегрируется с ПО WaferPro Express компании Keysight – платформой, выполняющей автоматические измерения на полупроводниковых пластинах. В рамках этой большой интегрированной среды данная платформа предоставляет инженерам исчерпывающее представление о природе шума в их устройствах и схемах, превосходя возможности измерения шумов в автономной системе.
Сегодня инженерам, занятым измерением параметров полупроводниковых приборов, нередко нужна система для измерения шумов, которая обладала бы гибкостью и возможностями расширения. В частности, востребована система, объединяющая расширенные измерения и анализ низкочастотного шума с измерениями на полупроводниковых пластинах в одной мощной платформе, способной управлять тестированием всех характеристик на уровне полупроводниковых пластин. Непосредственная интеграция A-LFNA с ПО WaferPro Express даёт именно такую функциональность. Это интегрированное решение упрощает измерение шума компонентов, отдельных устройств и интегральных схем, как в корпусах, так и на полупроводниковых пластинах. Как и раньше, с помощью WaferPro Express инженеры могут программировать и выполнять высокоскоростные измерения по постоянному току, измерения ёмкости и измерения высокочастотных S-параметров, автоматизируя при этом управление зондовой станцией. Теперь, благодаря модулю для измерения шумов, они могут добавить в набор тестов измерения и анализ шума.
Встроенные в A-LFNA процедуры измеряют параметры по постоянному току и шум. Например, чтобы измерить шум КМОП транзистора с N каналом, система автоматически выбирает импедансы источника сигнала и нагрузки, которые наилучшим образом выявляют собственный шум устройства. Инженер может принять эти рекомендованные настройки или внести изменения – на этом инициализация измерения заканчивается. Затем A-LFNA измеряет спектральную плотность мощности шума (шум 1/f) и уровень шума во временной области (RTN). Результирующие данные отображаются в виде нескольких графиков. Различные вкладки упрощают выполнение типовых операций, таких как оценка рабочей точки устройства по постоянному току и измерение наклона кривой спектральной плотности мощности. Кроме того, данные шума можно анализировать и представлять в моделях устройств с помощью средств моделирования, таких как Model Builder Program (MBP) и IC-CAP компании Keysight. Разработчики схем могут использовать эти модели для точного проектирования малошумящих ВЧ схем и аналоговых цепей.
«Наши заказчики, занимающиеся тестированием параметров и моделированием полупроводниковых приборов, предъявляют многообразные требования к измерениям, от оценки надёжности устройств на основе GaN и моделирования устройств КМОП до тестирования датчиков магнитного поля, – сказал Тодд Катлер (Todd Cutler), вице-президент и генеральный менеджер отдела ПО для проектирования и измерений компании Keysight. – Благодаря новому интерфейсу пользователя ПО A-LFNA, наши заказчики получают уникальную возможность измерять и моделировать шум устройств на полупроводниковых пластинах, и одновременно могут пользоваться полным и гибким набором измерительных функций – от измерений по постоянному току до измерения ёмкости и S-параметров в СВЧ диапазоне».
Keysight A-LFNA обладает лучшей в отрасли чувствительностью к шумам (-183 дБВ2/Гц), что позволяет инженерам, занятым моделированием и измерением параметров цепей, быстро и точно измерять характеристики устройств на высоких напряжениях (до 200 В) и на сверхнизких частотах (от 0,03 Гц). Благодаря таким возможностям A-LFNA идеально подходит для разработки библиотек для технологических процессов на заводах, выпускающих полупроводниковые приборы, и для статистического управления процессами во время изготовления устройств. Производители операционных усилителей и линейных стабилизаторов напряжения тоже могут использовать A-LFNA для измерения параметров выходного шума с целью включения их в технические характеристики.
Более подробную информацию можно найти на сайте www.keysight.com/find/eesof-a-lfna. Фотографии высокого разрешения доступны по ссылке: www.keysight.com/find/A-LFNA_images. Демонстрационное видео о A-LFNA размещено на канале YouTube по ссылке https://youtu.be/dE__pYPFX2U.
О подразделении Keysight EEsof
Keysight EEsof является ведущим поставщиком программного обеспечения для автоматизированного проектирования СВЧ, ВЧ и высокоскоростных цифровых устройств, а также для системного, схемотехнического и 3D электромагнитного моделирования компонентов и устройств. Подробную информацию можно найти по адресу: www.keysight.com/find/eesof.
