Платформа Keysight Technologies для выполнения измерений на полупроводниковых пластинах теперь имеет встроенную функцию измерения низкочастотных шумов
Новый расширенный низкочастотный анализатор шума предлагает уникальную возможность измерения и моделирования шумов устройств на полупроводниковых пластинах.
Ключевые нововведения:
- Интеграция расширенного низкочастотного анализатора шума с ПО WaferPro Express позволяет создать готовое решение для измерения шумов, а также параметров постоянного тока, емкости и высокочастотных S-параметров
- Программный модуль измеряет параметры по постоянному току, шум 1/f, случайный телеграфный шум и анализирует данные проводимости
- Тесное сотрудничество компаний Keysight и Cascade Microtech позволило создать полностью интегрированное решение для измерений на полупроводниковых пластинах с автоматическим управлением всеми основными системами зондирования полупроводниковых пластин
